【英文标准名称】:IEEEGuideforSelectionandUseofBatteryMonitoringEquipmentinStationaryApplications
【原文标准名称】:固定应用电池监测设备的选择和使用
【标准号】:IEEE1491-2005
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2005-06-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:室温;蓄电池组;蓄电池容量;电池放电;电池装置;电池电压;充电;通讯技术;定义;接地;发电;电气工程;环境条件;湿度;装置;界面;发电站;保护措施;软件;蓄电池;监督(认可)
【英文主题词】:Ambienttemperature;Ambienttemperatures;Batteries;Batterycapacity;Batterycharging;Batteryinstallations;Batteryvoltage;Charge;Communicationtechnology;Definition;Definitions;Earthing;Electricpowergeneration;Electricalengineering;Environmentalcondition;Humidity;Installations;Interfaces;Powergeneratinginstallation;Protectivemeasures;Software;Storagebatteries;Surveillance(approval)
【摘要】:Maintainingafullyoperationalbatterysystem.Thisguidepresentsanddiscussesmeasurableparametersoflead-acidandnickel-cadmiumbatteriesasusedinstationarybatterysystemsandtheutilizationofsuchobservations
【中国标准分类号】:K82
【国际标准分类号】:29_220_10
【页数】:43P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Lightconveyorbelts-Determinationofthemaximumtensilestrength
【原文标准名称】:轻型输送带.最大抗拉强度的测定
【标准号】:BSENISO21180-2006
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-12-29
【实施或试行日期】:2006-12-29
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:输送带;定义;尺寸;抗拉;轻;物料装卸;数学计算;橡胶技术;拉力;抗拉强度;抗拉试验;试验设备;试验报告;试验
【英文主题词】:Conveyorbelts;Definition;Definitions;Dimensions;Drawresistance;Light(magnitude);Materialshandling;Mathematicalcalculations;Rubbertechnology;Tensileforce;Tensilestrength;Tensiletesting;Tensiletests;Testequipment;Testreports;Testing
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesatestmethodforthedeterminationofthemaximumtensilestrengthoflightconveyorbeltsaccordingtoISO21183-1,orofotherconveyorbeltswhereISO283isnotapplicable.
【中国标准分类号】:J81
【国际标准分类号】:53_040_10
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 |
| 英文名称： | Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
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| 替代情况： | 被GB/T 14141-2009代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1993-02-06 |
| 实施日期： | 1993-10-01 |
| 首发日期： | 1993-02-06 |
| 作废日期： | 2010-06-01 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 峨眉半导体材料研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：6， 字数：9千字 |
适用范围
本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于10.0mm用外延、扩散、离子注入到硅圆片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。对于厚度为0.2~3μm的薄层，测量范围为250~5000Ω；对于厚度不小于3μm的薄层，薄层电阻的测量下限可达10Ω。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法